TS303i

In-line-in circuit tester

  • 본 설비는 BARE PCB나 부품이 실장된 PCB를 MAGAZINE RACK에 적재한 후 RACK으로부터 PCB를 1매씩 LINE에 투입하여 자동 검사하는 방식으로 양품과 불량 PCB를 판별하여 양품 PCB RACK와 불량 PCB RACK에 LINE을 통해 자동으로 적재 되게 하는 방식입니다.
  • 생산공정을 좀 더 유연하게 해주고 동시에 생산능력과 품질을 향상시켜줍니다.
  • 사용장소에 맞게 맞춤형으로 제작이 가능합니다.
  • 제품특징
  • 제품사양

제품특징

  • - Fixture 설치를 위한 SLIDE-IN
  • - Fixture와 시스템을 연결하기 위한 Din-Connector
  • - PCB를 위한 안전한 디자인
  • - 바코드 판독기에 의한 생산관리
  • - 양품과 불량 구분 적재

제품활용

기능 활용
PCB의 상태검사 PCB ASS`Y에 실장된 부품의 용량, 미삽, 오삽, 역삽을 검사합니다.
전해콘덴서의 역삽을 부위 부품에 영향을 주지 않고 검출합니다.
PCB PATTERN 및 ASS`Y상의 SHORT/OPEN을 검사합니다.
IC의 Lead Open 검사 HP TESTJET 및 NAND TREE TEST 그리고 IC SCAN을 채용합니다.
Marking System 적용 PCB 검사 후 양품과 불량품을 구분하는데 도움을 줍니다.
Bar Code 기능 검사한 PCB의 일련번호 및 검사내용을 저장하여 DATA로 활용 할 수 있습니다.
DATA Trantiator 타사의 FIXTURE DATA를 당사 장비에 사용할 수 있도록 전환 할 수 있습니다.
NetWork Station MAIN PC에서 각 LINE의 생산현황을 실시간으로 확인 및 DATA BASE로 활용 할 수 있습니다.
IN-LINE System TS303 설비를 IN-LINE SYSTEM으로 구성시 안정된 생산성을 추구 할 수 있습니다.
BOARD VIEW 모니터로 불량 부위를 간편하게 확인 및 수정 할 수 있습니다.
Top Ten Failed LIST 생산현장에서 공정개선을 위한 상위 10개의 불량부품을 모니터로 확인 할 수 있습니다.
REPORTS 모든 PCB검사 DATA를 다양한 방식으로 모니터링 및 DATA BASE화 할 수 있습니다.
인위적 온도설정 SYSTEM의 온도를 설정하여 최적의 검사환경을 유지 함으로써 안정된 검사를 도와줍니다.

사양 및 설명

주요사양 범위/성능
RESISTOR (0.1 ohm∼40M ohm) 4wire 방식을 이용 미세한 저항에 대한 검사가 가능합니다.
CAPACITOR (0.2 pF∼40mF) Measure Unit의 안정적인 측정으로 검사가 가능합니다.
INDUCTOR (0.2 uH∼40H) Coil에 대해서는 LCR Tester와 동일한 검사가 가능합니다.
ZENER DIODE (0.1V∼48V) HV에 대한 검사가 가능합니다.
TESTING POINTS (MAX 4,096 point) Test Point는 Max 4,096임
TESTING STEPS
(Standard 20,000 steps,unlimited expandable)
일반적인 Step은 20,000이지만 무한대의 Step이 가능합니다.
GUARDING POINTS (10 points) 누설 전류 부분을 동전위(guard)를 이용한 정확한 측정
TESTABLE PCB SIZE
(STD 420*300(mm))
PCB size는 일반적 치수이며, 주문제작시 수정 가능합니다.
FUNCTIONAL TEST (Yes) 주파수 측정및 RY on/off등 Function Test가 가능합니다.
AUTO-ADJUSTING (Yes) Data를 Auto Debuging 가능합니다.
HP TESTJET TECH (Yes) HP Testjet 기능을 이용 QFP,SOP,BGA등의 냉납 검사가 가능합니다.
IC FALES SOLDERING TEST FUNCTION IC`s 소자에 대한 동작 검사및 리드의 들뜸 현상도 검사가 가능합니다. (IC Scan (Jet 특허권이 있습니다.))
CHIP SET FUNCTIONAL
(Nand tree test)
IC Nand Gate에 대한 검사가 가능합니다.
HIGH VOLTAGE DETECTING FUNCTION (Yes) PCB에 HV가능성에 대한 검색이 가능합니다.
HIGH FREQUENCY PHASE MEASUREMENT
(1MHz phase measurement and more accurate)
1MHz Phase Measure를 이용 폭넓은 검사가 가능합니다.
R+C CHECK (Yes) 저항과 콘덴서의 병렬 회로인 경우 위상 분해를 통해 검사합니다.
R+L CHECK (Yes) 저항과 코일의 병렬 회로인 경우 위상 분해를 통해 검사합니다.
TR(PNP) 역삽 CHECK (Yes) TR(pnp)인 경우 오삽, 역삽에 대해 검사가 가능합니다.
전해콘덴서 역삽 (100% Check) 전해 콘덴서인 경우에 역삽 검사가 가능합니다.
DIODE 병렬 CHECK (Yes) Diode가 순방향 병렬인 경우에 각각에 대해 검사가 가능합니다.
탄탈 콘덴서 역삽 CHECK (Yes) 탄탈 소자에 대해서 역삽, 내압이 다른 부분에 있어 검사가 가능합니다.
MAINTENANCE DATA IN-TIME DISPLAY
(Text & Graphic)
Error Meassage에 대해 Graphic지원을 통해 Repair가 편리합니다.
MAINTENANCE DATA PRINTING
(Available to print and offer sufficient info to the most possible area of the short failure)
Maintenance에 대해서 Printer화 하여 Data관리가 가능합니다.
MAINTENANCE DATA TRANSFER (Network) Network를 통해 품질 관리가 가능합니다.
BAR CODE READER (Yes) PCB에 Bar-Code를 부착 측정값이 1File로 저장 가능합니다.
OPEN/SHORT LEVEL PROGRAMMABLE (Yes) PCB Pattern의 S/O Level를 인위적으로 조정이 가능합니다.
AUTO GUARDING (Yes) 누설 전류 부분을 동전위(guard)를 이용한 정확한 측정- Auto
PIN INFORMATION (Yes) Pin에 대한 관련 부품을 Display
GRAPHIC DISPLAY FOR DEVICE LOCATION (Yes) 불량 부품에 대하여 Graphic지원이 가능합니다.
IC DETECTABLE ANALYSIS (Yes) IC의 불량 검사에 대한 분석이 가능합니다.
Short/Open Test Time (1.0sec/1000pins) Pattern의 S/O인 경우 검사 속도는 매우 빠른편입니다.
Component Test Time (0.6ms∼30ms/step) IC 소자의 3,000Point Test time은 약 2sec정도입니다.