제품소개
TS303i
In-line-in circuit tester
- 본 설비는 BARE PCB나 부품이 실장된 PCB를 MAGAZINE RACK에 적재한 후 RACK으로부터 PCB를 1매씩 LINE에 투입하여 자동 검사하는 방식으로 양품과 불량 PCB를 판별하여 양품 PCB RACK와 불량 PCB RACK에 LINE을 통해 자동으로 적재 되게 하는 방식입니다.
- 생산공정을 좀 더 유연하게 해주고 동시에 생산능력과 품질을 향상시켜줍니다.
- 사용장소에 맞게 맞춤형으로 제작이 가능합니다.
- 제품특징
- 제품사양
제품특징
- - Fixture 설치를 위한 SLIDE-IN
- - Fixture와 시스템을 연결하기 위한 Din-Connector
- - PCB를 위한 안전한 디자인
- - 바코드 판독기에 의한 생산관리
- - 양품과 불량 구분 적재
제품활용
| 기능 | 활용 |
|---|---|
| PCB의 상태검사 | PCB ASS`Y에 실장된 부품의 용량, 미삽, 오삽, 역삽을 검사합니다. |
| 전해콘덴서의 역삽을 부위 부품에 영향을 주지 않고 검출합니다. | |
| PCB PATTERN 및 ASS`Y상의 SHORT/OPEN을 검사합니다. | |
| IC의 Lead Open 검사 | HP TESTJET 및 NAND TREE TEST 그리고 IC SCAN을 채용합니다. |
| Marking System 적용 | PCB 검사 후 양품과 불량품을 구분하는데 도움을 줍니다. |
| Bar Code 기능 | 검사한 PCB의 일련번호 및 검사내용을 저장하여 DATA로 활용 할 수 있습니다. |
| DATA Trantiator | 타사의 FIXTURE DATA를 당사 장비에 사용할 수 있도록 전환 할 수 있습니다. |
| NetWork Station | MAIN PC에서 각 LINE의 생산현황을 실시간으로 확인 및 DATA BASE로 활용 할 수 있습니다. |
| IN-LINE System | TS303 설비를 IN-LINE SYSTEM으로 구성시 안정된 생산성을 추구 할 수 있습니다. |
| BOARD VIEW | 모니터로 불량 부위를 간편하게 확인 및 수정 할 수 있습니다. |
| Top Ten Failed LIST | 생산현장에서 공정개선을 위한 상위 10개의 불량부품을 모니터로 확인 할 수 있습니다. |
| REPORTS | 모든 PCB검사 DATA를 다양한 방식으로 모니터링 및 DATA BASE화 할 수 있습니다. |
| 인위적 온도설정 | SYSTEM의 온도를 설정하여 최적의 검사환경을 유지 함으로써 안정된 검사를 도와줍니다. |
사양 및 설명
| 주요사양 | 범위/성능 |
|---|---|
| RESISTOR (0.1 ohm∼40M ohm) | 4wire 방식을 이용 미세한 저항에 대한 검사가 가능합니다. |
| CAPACITOR (0.2 pF∼40mF) | Measure Unit의 안정적인 측정으로 검사가 가능합니다. |
| INDUCTOR (0.2 uH∼40H) | Coil에 대해서는 LCR Tester와 동일한 검사가 가능합니다. |
| ZENER DIODE (0.1V∼48V) | HV에 대한 검사가 가능합니다. |
| TESTING POINTS (MAX 4,096 point) | Test Point는 Max 4,096임 |
| TESTING STEPS (Standard 20,000 steps,unlimited expandable) |
일반적인 Step은 20,000이지만 무한대의 Step이 가능합니다. |
| GUARDING POINTS (10 points) | 누설 전류 부분을 동전위(guard)를 이용한 정확한 측정 |
| TESTABLE PCB SIZE (STD 420*300(mm)) |
PCB size는 일반적 치수이며, 주문제작시 수정 가능합니다. |
| FUNCTIONAL TEST (Yes) | 주파수 측정및 RY on/off등 Function Test가 가능합니다. |
| AUTO-ADJUSTING (Yes) | Data를 Auto Debuging 가능합니다. |
| HP TESTJET TECH (Yes) | HP Testjet 기능을 이용 QFP,SOP,BGA등의 냉납 검사가 가능합니다. |
| IC FALES SOLDERING TEST FUNCTION | IC`s 소자에 대한 동작 검사및 리드의 들뜸 현상도 검사가 가능합니다. (IC Scan (Jet 특허권이 있습니다.)) |
| CHIP SET FUNCTIONAL (Nand tree test) |
IC Nand Gate에 대한 검사가 가능합니다. |
| HIGH VOLTAGE DETECTING FUNCTION (Yes) | PCB에 HV가능성에 대한 검색이 가능합니다. |
| HIGH FREQUENCY PHASE MEASUREMENT (1MHz phase measurement and more accurate) |
1MHz Phase Measure를 이용 폭넓은 검사가 가능합니다. |
| R+C CHECK (Yes) | 저항과 콘덴서의 병렬 회로인 경우 위상 분해를 통해 검사합니다. |
| R+L CHECK (Yes) | 저항과 코일의 병렬 회로인 경우 위상 분해를 통해 검사합니다. |
| TR(PNP) 역삽 CHECK (Yes) | TR(pnp)인 경우 오삽, 역삽에 대해 검사가 가능합니다. |
| 전해콘덴서 역삽 (100% Check) | 전해 콘덴서인 경우에 역삽 검사가 가능합니다. |
| DIODE 병렬 CHECK (Yes) | Diode가 순방향 병렬인 경우에 각각에 대해 검사가 가능합니다. |
| 탄탈 콘덴서 역삽 CHECK (Yes) | 탄탈 소자에 대해서 역삽, 내압이 다른 부분에 있어 검사가 가능합니다. |
| MAINTENANCE DATA IN-TIME DISPLAY (Text & Graphic) |
Error Meassage에 대해 Graphic지원을 통해 Repair가 편리합니다. |
| MAINTENANCE DATA PRINTING (Available to print and offer sufficient info to the most possible area of the short failure) |
Maintenance에 대해서 Printer화 하여 Data관리가 가능합니다. |
| MAINTENANCE DATA TRANSFER (Network) | Network를 통해 품질 관리가 가능합니다. |
| BAR CODE READER (Yes) | PCB에 Bar-Code를 부착 측정값이 1File로 저장 가능합니다. |
| OPEN/SHORT LEVEL PROGRAMMABLE (Yes) | PCB Pattern의 S/O Level를 인위적으로 조정이 가능합니다. |
| AUTO GUARDING (Yes) | 누설 전류 부분을 동전위(guard)를 이용한 정확한 측정- Auto |
| PIN INFORMATION (Yes) | Pin에 대한 관련 부품을 Display |
| GRAPHIC DISPLAY FOR DEVICE LOCATION (Yes) | 불량 부품에 대하여 Graphic지원이 가능합니다. |
| IC DETECTABLE ANALYSIS (Yes) | IC의 불량 검사에 대한 분석이 가능합니다. |
| Short/Open Test Time (1.0sec/1000pins) | Pattern의 S/O인 경우 검사 속도는 매우 빠른편입니다. |
| Component Test Time (0.6ms∼30ms/step) | IC 소자의 3,000Point Test time은 약 2sec정도입니다. |
